SN74ABT8245 Serie Lógica de función especial

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Descripción Hoja de datos Disponibilidad Precio: (CLP) Filtre los resultados en la tabla por precio unitario en función de su cantidad.
Cantidad RoHS Modelo ECAD Producto
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Texas Instruments Lógica de función especial Scan Test Device A 5 95-SN74ABT8245DWR A 595-SN74ABT8245DWR
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Mult.: 1

SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Tube
Texas Instruments Lógica de función especial Scan Test Devices AL T 595-SN74ABT8245DW ALT 595-SN74ABT8245DW
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Min.: 1
Mult.: 1

Boundry Scan JTAG Logic SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Tube
Texas Instruments Lógica de función especial Scan Test Device A 5 95-SN74ABT8245DW A 595-SN74ABT8245DW
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Plazo de entrega no en existencias 6 Semanas
Min.: 2.000
Mult.: 2.000
Carrete: 2.000

SN74ABT8245 - 40 C + 85 C SOIC-24 Reel