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INA228EVM

Name: Texas Instruments INA228EVM
Brand: Texas Instruments
SKU: 595-INA228EVM
Price: 57901 CLP
Availability: OutOfStock

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Mouser N.º:

595-INA228EVM

Fabricante N.º:

INA228EVM

Fabricante:

Texas Instruments

Descripción:

Herramientas de desarrollo de administración de IC

Hoja de datos:

INA228EVM Hoja de datos (PDF)

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Atributo del producto	Valor de atributo	Seleccionar atributo
Fabricante:	Texas Instruments
Categoría de producto:	Herramientas de desarrollo de administración de IC
RoHS:
Producto:	Evaluation Modules
Tipo:	Current, Power & Voltage Monitor
Voltaje de entrada:	2.7 V to 5.5 V
La Herramienta es para la Evaluación de :	INA228
Marca:	Texas Instruments
Para utilizar con:	Power Monitors
Tipo de interfaz:	I2C
Tipo de producto:	Power Management IC Development Tools
Cantidad de empaque de fábrica:	1
Subcategoría:	Development Tools

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STANDARD TERMS FOR EVALUATION MODULES (PDF)

CAHTS:: 8473302000
USHTS:: 8473301180
TARIC:: 8473302000
MXHTS:: 8473300401
ECCN:: EAR99

INA2xxEVM Power Monitor Evaluation Modules

Texas Instruments INA2xxEVM Power Monitor Evaluation Modules (EVMs) are easy-to-use platforms for evaluating the main features and performance of the INA228, INA229, INA237, INA238, or INA239. The evaluation module supports current measurements up to 10amps and comes with a graphical user interface (GUI) support for reading and writing to device registers. The Texas Instruments INA228, INA229, INA237, INA238, and INA239 devices are digital power monitors with integrated 20-bit (INA229 and INA228) and 16-bit (INA237, INA238, and INA239) delta-sigma ADCs specifically designed for current-sensing applications. The devices can measure a selectable full-scale differential input of ±163.84mV or ±40.96mV across the shunt with common-mode voltage support from –0.3V to +85V. For the INA228 and INA229, built-in digital accumulation calculates average power, internal die temperature, energy, and charge accumulation. For the INA237, INA238, and INA239, built-in digital accumulation calculates average power and internal die temperature.